走査電子顕微鏡(そうさでんしけんびきょう)sōsa denshi kenbikyō

電子線を対象物に走査(スキャン)することで、対象物の表面を数千~数百万倍に拡大し構造を観察する装置。

第69回 正倉院展、2017年

五十音順Syllabary Order

アルファベット順Alphabetical Order