走査電子顕微鏡｜正倉院展用語解説｜ The Exhibition of Shōsō-in Treasures Glossary

走査電子顕微鏡(そうさでんしけんびきょう)sōsa denshi kenbikyō

電子線を対象物に走査（スキャン）することで、対象物の表面を数千～数百万倍に拡大し構造を観察する装置。

第69回　正倉院展、2017年

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