ベータ線後方散乱率(べーたせんこうほうさんらんりつ)be-tasen kōhō sanran ritsu

電子線の一種であるベータ線が試料に当たって跳(は)ね返る現象をベータ線後方散乱と呼ぶ。この散乱率から、非破壊で対象物の素材などを知ることが可能となる。非破壊による蛍光(けいこう)エックス線分析法が発達していなかった頃に材質調査で用いられた方法の一つ。

第69回 正倉院展、2017年

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