走査電子顕微鏡(そうさでんしけんびきょう)
sōsa denshi kenbikyō
電子線を対象物に走査（スキャン）することで、対象物の表面を数千～数百万倍に拡大し構造を観察する装置。
第69回 正倉院展、2017年
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