エックス線回折分析(えっくすせんかいせつぶんせき)ekkususen kaisetsu bunseki
結晶性の物質にエックス線を照射すると、散乱線が互いに干渉して回折現象を起こす。これを利用した分析法である。結晶ごとの固有のパターンを読み取り、物質の原子の配列に関する情報や結晶構造、化合物などを知ることができる。→光学調査(こうがくちょうさ)
第76回 正倉院展、2024年
結晶性の物質にエックス線を照射すると、散乱線が互いに干渉して回折現象を起こす。これを利用した分析法である。結晶ごとの固有のパターンを読み取り、物質の原子の配列に関する情報や結晶構造、化合物などを知ることができる。→光学調査(こうがくちょうさ)